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Leica DM4P 半自動正置偏光顯微鏡
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Leica DM4P 半自動正置偏光顯微鏡 簡介

配備 6 物鏡轉盤

完全編碼的半自動

無應力光學部件

Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡適合在偏光顯微鏡下進行各種操作。非常適用于錐光法:用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。適合研究晶體結構,無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑。

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通過編碼組件存儲和調用信息:

- 想要更換物鏡時,可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。

- 得益于編碼物鏡轉盤的存在,攝取的圖像始終得到校準。 

  

辨識感興趣的結構:

- 25-mm 大視場為您帶來優質的概覽圖像。

- 為您展現所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖,而不是細節圖-比如流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。 

物鏡轉盤應對自如

物鏡轉盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率,獲取豐富的樣品信息。

- 使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構。

- 如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究,可切換為 63 倍放大倍率。

- 切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應。

而且物鏡轉盤也是編碼的,可為您提供智能支持。 

兩種照明物盡其用

可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光,也可以一次性配置為使用兩種光源。

- 進行反射率測量時必須使用入射光,例如觀察礦石或煤炭。

- 進行雙折射測量時則需要使用透射光,例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。

- 在地質研究等特殊應用中,兩種光都必不可少。

  

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